DIN EN 60749-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
DIN EN 60749-23-2004 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-23-2004
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2004-10
内容简介
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitori
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