DIN EN 60749-27-2007 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度试验.机器模型(MM)
DIN EN 60749-27-2007 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-27-2007
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度试验.机器模型(MM)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006); German version EN 60749-27:2006
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2007-01
内容简介
This part of DIN EN 60749 establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may
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