DIN EN 60749-9-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记耐久性
DIN EN 60749-9-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-9-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记耐久性
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and verify that the markings on semiconductor devices will not become illegible when subject to solvents or cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printe
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