DIN EN 60749-4-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：湿热、稳态、高加速度作用 hast
DIN EN 60749-4-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-4-2003
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：湿热、稳态、高加速度作用 hast
- 英文标题：semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; part 4: damp heat, steady state, highly accelerated stress test hast
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
This part of DIN EN 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
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