DIN EN 60749-37-2008 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-37-2008
- 中文标题：半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2008-08
