当前位置:首页国外标准

EN 60749-15-2010 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第15部分:耐焊接温度安装通孔器件

EN 60749-15-2010 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第15部分:耐焊接温度安装通孔器件

EN 60749-15-2010 标准详情

  • 标准号:EN 60749-15-2010
  • 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第15部分:耐焊接温度安装通孔器件
  • 英文标题:semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 15: resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
  • 标准类别:欧盟标准EN
  • 发布日期:2010-12-10

内容简介

Specifies a test used to determine whether encapsulated solid state devices used for through-hole mounting can withstand the effects of the temperature to which they are subjected during soldering of their leads by using wave soldering or a soldering

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习,研究使用。如有侵权,请及时联系我们!

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
    ③ 代购正版,联系:联系邮箱