EN 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法:第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试.
EN 60749-30-2005 标准详情
- 标准号：EN 60749-30-2005
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法:第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试.
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 30: preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2005-03-01
内容简介
Defines a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount devices (SMDs) prior to reliability testing.
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