DIN EN 60749-18-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
DIN EN 60749-18-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-18-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-09
内容简介
The test procedure described in this standard defines the reqirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionisind radiation (total dose) effects from a cobalt-60 gamma ray source. In addition
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