DIN EN 60749-2001 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-2001
- 中文标题：半导体装置.机械和气候试验方法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods (iec 60749:1996 + a1:2000); german version en 60749:1999 + a1:2000
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2001-09
DIN EN 60749-2001 半导体装置.机械和气候试验方法
内容简介
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