EN 60749-1999 标准详情
- 标准号：EN 60749-1999
- 中文标题：半导体装置.机械和气候试验方法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：1999-01-20
EN 60749-1999 半导体装置.机械和气候试验方法
内容简介
Defines test methods to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Additional test methods may be required for non-cavity devices.
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