EN 60749-1-2003 标准详情
- 标准号：EN 60749-1-2003
- 中文标题：半导体器件,机械和气候试验方法.总则.
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 1: general
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2003-06-20
EN 60749-1-2003 半导体器件,机械和气候试验方法.总则.
内容简介
Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series.
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