EN 60749-3-2002 标准详情
- 标准号：EN 60749-3-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 3: external visual examination
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2002-08-13
EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
内容简介
Verifies that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
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