IEC 60749-29-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-29-2003
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分: 锁紧测试
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 29: latch-up test
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-11-04
IEC 60749-29-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分: 锁紧测试
内容简介
Covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. The purpose of this test is to establish a method for determining integrated circuit latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteris
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