IEC 60749-4 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
IEC 60749-4 Corrigendum 1-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-4 Corrigendum 1-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-08
内容简介
This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-4-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 4:Damp heat, steady state,highly accelerated stress test (HAST))
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