IEC 60749-33-2004 标准详情
- 标准号：IEC 60749-33-2004
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分: 强化抗湿－无偏热压试验
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 33: accelerated moisture resistance - unbiased autoclave
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2004-03-09
IEC 60749-33-2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分: 强化抗湿－无偏热压试验
内容简介
THE UNBIASED AUTOCLAVE TEST IS PERFORMED TO EVALUATE THE MOISTURE RESISTANCE INTEGRITY OF NON-HERMETICALLY PACKAGED SOLID-STATE DEVICES USING MOISTURE CONDENSING OR MOISTURE SATURATED STEAM ENVIRONMENTS. IT IS A HIGHLY ACCELERATED TEST WHICH EMPLOYS
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