IEC 60749-26-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分: 人体模型（hbm）的静电释放（esd）灵敏度测试
IEC 60749-26-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-26-2003
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分: 人体模型（hbm）的静电释放（esd）灵敏度测试
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 26: electrostatic discharge (esd) sensitivity testing - human body model (hbm)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-10-21
内容简介
ESTABLISHES A STANDARD PROCEDURE FOR TESTING AND CLASSIFYING SEMICONDUCTOR DEVICES ACCORDING TO THEIR SUSCEPTIBILITY TO DAMAGE OR DEGRADATION BY EXPOSURE TO A DEFINED HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE. THE OBJECTIVE IS TO PROVIDE RELIABLE, REP
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