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DIN EN 60749-16-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第16部分：粒子碰撞噪声检测（ PIND ）试验（ IEC一千五百八十四分之四十七/ CDV ： 2001年） ，德国版PREN 60749-16 ：2001

DIN EN 60749-16-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第16部分：粒子碰撞噪声检测（ PIND ）试验（ IEC一千五百八十四分之四十七/ CDV ： 2001年） ，德国版PREN 60749-16 ：2001

DIN EN 60749-16-2002 标准详情

  • 标准号：DIN EN 60749-16-2002
  • 中文标题：（草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第16部分：粒子碰撞噪声检测（ PIND ）试验（ IEC一千五百八十四分之四十七/ CDV ： 2001年） ，德国版PREN 60749-16 ：2001
  • 英文标题：(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 16: particle impact noise detection (pind) test (iec 47/1584/cdv:2001); german version pren 60749-16:2001
  • 标准类别：德国标准
  • 发布日期：2002-05-01

内容简介

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