DIN EN 60749-13-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐雾
DIN EN 60749-13-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-13-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分: 盐雾
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
The document describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to
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