DIN EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
DIN EN 60749-17-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-17-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003); German version EN 60749-17:2003
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-09
内容简介
The neutron irradiation test is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. The tests described herein are applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices. This te
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