DIN EN 60749-38-2008 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-38-2008
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2008-10
