DIN EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)
DIN EN 60749-16-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-16-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003); German version EN 60749-16:2003
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-09
内容简介
The test described in this standard is used to detet the presence of loose particles inside a cavity device, such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).
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