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DIN EN 60749-27-2002 (草案)的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第27部分:静电放电(ESD )敏感性测试,机器模型( MM) ( IEC一千六百二十四分之四十七/ CDV : 2002) ,德国版PREN 60749-27 :2002

DIN EN 60749-27-2002 (草案)的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第27部分:静电放电(ESD )敏感性测试,机器模型( MM) ( IEC一千六百二十四分之四十七/ CDV : 2002) ,德国版PREN 60749-27 :2002

DIN EN 60749-27-2002 标准详情

  • 标准号:DIN EN 60749-27-2002
  • 中文标题:(草案)的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第27部分:静电放电(ESD )敏感性测试,机器模型( MM) ( IEC一千六百二十四分之四十七/ CDV : 2002) ,德国版PREN 60749-27 :2002
  • 英文标题:(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 27: electrostatic discharge (esd) sensitivity testing; machine model (mm) (iec 47/1624/cdv:2002); german version pren 60749-27:2002
  • 标准类别:德国标准
  • 发布日期:2002-09-01

内容简介

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