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DIN EN 60749-29-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第29部分：闩锁试验（ IEC 1625分之47 / CDV ： 2002），德国版PREN 60749-29 ：2002

DIN EN 60749-29-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第29部分：闩锁试验（ IEC 1625分之47 / CDV ： 2002），德国版PREN 60749-29 ：2002

DIN EN 60749-29-2002 标准详情

标准号：DIN EN 60749-29-2002
中文标题：（草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第29部分：闩锁试验（ IEC 1625分之47 / CDV ： 2002），德国版PREN 60749-29 ：2002
英文标题：(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 29: latch-up test (iec 47/1625/cdv:2002); german version pren 60749-29:2002
标准类别：德国标准
发布日期：2002-09-01

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