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DIN EN 60749-26-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分：静电放电（ESD ）敏感性测试，人体模型（ HBM ） （ IEC 1623分之47 / CDV ： 2002年） ，德国版PREN 60749-26 ：2002

DIN EN 60749-26-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分：静电放电（ESD ）敏感性测试，人体模型（ HBM ） （ IEC 1623分之47 / CDV ： 2002年） ，德国版PREN 60749-26 ：2002

DIN EN 60749-26-2002 标准详情

  • 标准号：DIN EN 60749-26-2002
  • 中文标题：（草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分：静电放电（ESD ）敏感性测试，人体模型（ HBM ） （ IEC 1623分之47 / CDV ： 2002年） ，德国版PREN 60749-26 ：2002
  • 英文标题：(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 26: electrostatic discharge (esd) sensitivity testing; human body model (hbm) (iec 47/1623/cdv:2002); german version pren 60749-26:2002
  • 标准类别：德国标准
  • 发布日期：2002-09-01

内容简介

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