DIN EN 60749-1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
DIN EN 60749-1-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-1-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-12
内容简介
This part of DIN EN 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all other parts of the series.
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