DIN EN 60749-2-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-2-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
DIN EN 60749-2-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
内容简介
This part of DIN EN 60749 covers the testing of low air pressure on semiconductor devices. The test is intended primarily to determine the ability of component parts and materials to avoid voltage breakdown failures due to the reduced dielectric stre
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