IEC 60749-32 AMD 1-2010 修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)
IEC 60749-32 AMD 1-2010 标准详情
- 标准号：IEC 60749-32 AMD 1-2010
- 中文标题：修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)
- 英文标题：amendment 1 semiconductor devices. mechanical and climatic test methods. part 32:flammability of plastic-encapsulated devices externally induced amendement 1 dispositifs. semiconducteurs. méthodes d essais mécaniques et climatiques. partie 32:infla
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2010-07
内容简介
AMENDMENT 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
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