IEC 60749-23 AMD 1-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期
IEC 60749-23 AMD 1-2011 标准详情
- 标准号：IEC 60749-23 AMD 1-2011
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期
- 英文标题：amendment 1 semiconductor devices. mechanical and climatic test methods. part 23:high temperature operating life amendement 1 dispositifs. semiconducteurs. méthodes d essais mécaniques et climatiques. partie 23:durée de vie en fonctionnement. haute t
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2011-01
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